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DOI (für Zitat) http://dx.doi.org/10.5445/KSP/1000027008
URN (für Zitat) http://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:0072-270088
Titel Integrierte Lagesensorik für ein adaptives mikrooptisches Ablenksystem
Autor Auernhammer, Daniel
Institution Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) (IMT)
Dokumenttyp Buch
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Jahr 2012
Serie Schriften des Instituts für Mikrostrukturtechnik am Karlsruher Institut für Technologie / Hrsg.: Institut für Mikrostrukturtechnik ; 11
ISSN: 1869-5183
ISBN 978-3-86644-829-2
Hochschulschrift Dissertation
Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) (IMT)
Prüfungsdaten: 28.06.2011
Referent/Betreuer: Prof. V. Saile
Abstract In einem mikrooptischen Ablenksystem sollen die sensorischen Eigenschaften der ferromagnetischen Formgedächtnislegierung Ni-Mn-Ga untersucht werden. Dabei kommt ein elektro-thermisch aktivierbarer, durch einen Permanentmagneten vorausgelenkter Dünnfilm-Biegeaktor zur Strahlablenkung zum Einsatz. Die Untersuchung der Eignung des magnetoresistiven Materials zur Positionsermittlung ist Ziel dieser Arbeit. Zur vergleichenden Bewertung werden kapazitive und resistive Referenzsensoren herangezogen.