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DOI (für Zitat) http://dx.doi.org/10.5445/KSP/1000027498
URN (für Zitat) http://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:0072-274987
Titel Effizienter Regressionstest von E/E-Systemen nach ISO 26262
Autor Nörenberg, Ralf
Institution Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Dokumenttyp Buch
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Jahr 2012
Serie Steinbuch Series on Advances in Information Technology / Karlsruher Institut für Technologie, Institut für Technik der Informationsverarbeitung ; 3
ISSN: 2191-4737
ISBN 978-3-86644-842-1
Hochschulschrift Dissertation
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Prüfungsdaten: 15.02.2012
Referent/Betreuer: Prof. K. Müller-Glaser
Abstract Selektive Regressionstestmethodiken analysieren auf Basis einer auf eine Systemdarstellung abgebildeten Modifikation, welche Testfälle für eine systematische Überprüfung der Änderung selbst sowie aller potentiellen durch eine mögliche Fehlwirkung betroffenen Teilbereiche des Systems notwendig sind. Im Rahmen dieser Arbeit wird erstmals eine effiziente und spezifikationsbasierte Regressionstestmethodik nach ISO 26262 für die E/E-Systemebene entwickelt.